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美国FEI电子显微镜
扫描电子显微镜 (SEM) 透射电子显微镜 (TEM) 双束电子显微镜(FIB/SEM)
                 
聚焦离子束 (FIB) 仪器 专业产品    
 
 
   Quanta 扫描电子显微镜
 

适用于各种样品的高真空、低真空和ESEM模式

FEI QUANTA™ 产品系列包括6个变量的压力和环境扫描电子显微镜(ESEM™ )和两个DualBeam™ 系统,所有这些都可以容纳多个样品和工业过程控制实验室,材料科学实验室和生命科学实验室的成像要求。Quanta系列的扫描电子显微镜,是一款多功能,高性能仪器与任何SEM系统的样本,以适应范围最广的三种模式(高真空,低真空和ESEM)。如能谱仪,波长色散X射线光谱仪和电子背散射衍射分析系统,可配备所有的广泛电脑扫描电镜系统。
     

主要优点

  • 最小化样品制备的数量,低真空和 ESEM 功能可实现绝缘及/或含水样品的无荷电成像和分析
  • 通过 Quanta 的“经由透镜”专利压差真空技术,可在高真空和低真空条件下对导电和绝缘样品进行 EDS 和 EBSD 分析,提高分析能力。 稳定的高射束电流(高达 2 μA)可实现快速准确的分析
  • 使用原位样品台在 - 165 °C - 1500 °C 环境温度条件下执行各种自然状态样品的动态原位分析
  • 使用可选的射束减速模式完成表面成像,以获取导电样品的表面和成分信息
  • 易用和直观性令初学者也能进行高效操作。

规格

 

Quanta 50 系列
高真空
  • 3.0 nm/30 kV (SE)
  • 4.0 nm/30 kV (BSE)
  • 10.0 nm/3 kV (SE)
低真空
  • 3.0 nm/30 kV (SE)
  • 4.0 nm/30k V (BSE)
  • 10 nm/3 kV (SE)
200 V
- 30 kV
高达 2 μA,
可持续
调节
20 - 1000000
x (四象限视图)
左右宽
284mm-379mm
Quanta 50 系列/配 FEG
高真空
  • 0.8 nm/30 kV (STEM)*
  • 1.0 nm/30 kV (SE)
  • 2.5 nm/30 kV (BSE)
  • 3.0 nm/1 kV (SE)
低真空
  • 1.4 nm/30 kV (SE)
  • 2.5 nm/30 kV (BSE)
  • 3.0 nm/3 kV (SE)
200 V
- 30 kV
高达 2 μA,
可持续
调节
20 - 1000000
x (四象限视图)
284mm-379mm
内径(从左至右)
 

 

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